簡(jiǎn)要描述：手機(jī)鏡頭外觀檢測(cè)機(jī)主要用于手機(jī)鏡頭外觀缺陷檢測(cè)，包括鏡筒上的缺陷和鏡頭內(nèi)部的缺陷。能檢測(cè)20um以上缺陷，且支持不同層鏡片及不同類型缺陷分類，不同參數(shù)進(jìn)行管控。

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手機(jī)鏡頭外觀檢測(cè)機(jī)是專門用于手機(jī)攝像頭上的鏡片外觀缺陷檢測(cè)，能替代人工檢測(cè)，且效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于人工檢測(cè)。

自研鏡頭及照明方案

本公司具有20多年光學(xué)系統(tǒng)研發(fā)制造經(jīng)驗(yàn)，根據(jù)鏡片缺陷檢測(cè)需求，已生產(chǎn)視野廣、精度高、對(duì)比度強(qiáng)的鏡頭。提升設(shè)備在檢測(cè)過(guò)程中缺陷的檢出能力。并根據(jù)缺陷的成像特征設(shè)計(jì)高效的照明方案。

自研高效檢測(cè)算法

鏡片缺陷檢測(cè)算法由SUNNY自主研發(fā)設(shè)計(jì)，可檢測(cè)出淺臟、脫膜、黑點(diǎn)、劃傷等細(xì)微缺陷。采用GPU、OpenMP、SSE加速提高算法執(zhí)行效率，應(yīng)用亞像素技術(shù)提升缺陷尺寸測(cè)量精度。手機(jī)鏡頭外觀檢測(cè)機(jī)可根據(jù)特征對(duì)部分缺陷進(jìn)行分類，并設(shè)定不同的檢出標(biāo)準(zhǔn)，降低過(guò)漏檢率，滿足高效穩(wěn)定的檢測(cè)需求。

小口徑產(chǎn)品噴碼標(biāo)記解決方案

提供噴碼打點(diǎn)標(biāo)記方案，該方式適用范圍廣，打點(diǎn)速度快，并且不會(huì)發(fā)生打到治具或者墨點(diǎn)噴濺的情況。在大批量檢測(cè)過(guò)程中對(duì)比記號(hào)筆打點(diǎn)優(yōu)勢(shì)明顯，解決3.5mm以下小口徑產(chǎn)品無(wú)法標(biāo)記問(wèn)題。